Szolgáltatások a rendelkezésre álló infrastruktúrával

1. ICP-OES spektrométer: Agilent 720 ES

Oldatok, ill. feltárás útján oldatba vitt szilárd minták elemösszetételének szimultán multielemes mennyiségi elemzésére szolgál, akár ppm alatti kimutatási határral.

  • Axiális plazmafigyelés
  • Mérési hullámhossz tartomány: 167 – 785 nm
  • Hidrogén-fluoriddal feltárt minták közvetlen elemzési lehetőségével

2. Röntgen pordiffraktométer Rigaku / Miniflex II

Porminták, vékony filmek, szilárd kristályos anyagok azonosítását  lehet  elvégezni,  ill.  kristályos  keverékek fázisösszetételét lehet meghatározni rácsszerkezeten alapuló azonosítással. Paraméterek:

  • Mérési tartomány: : -3° –   +145° (2Θ)
  • Mérési sebesség: 0,01° – 100°/min (2Θ)

3. DLS szemcseméret és Zeta-potenciál mérő: Malvern Zetasizer nano S

A DLS berendezés (dynamic light scattering = dinamikus fényszórás)  berendezés szemcseeloszlás mérésre használható, nagyon kis részecskeméret-tartományban (1 nm–5 μm). A szórt fény intenzitásának időbeni fluktuációját elemzi, minél kisebb a részecske, annál gyorsabb a mozgása. A mérés során a részecske méret-eloszlást a visszaszórt fénysugárból az ún. „Non Invasive Back Scattered” technika alkalmazásával határozza meg.

A berendezés másik funkciója, az  úgynevezett Zeta-potenciál mérése, amely a lézer Doppler elektroforézis segítségével mérhető. Ha a zéta-potenciál értéke nulla a rendszerek stabilitása lecsökken, a részecskék könnyen összetapadhatnak, koagulátumok, aggregátumok alakulhatnak ki. Ha a zéta-potenciál értéke pozitív vagy negatív, a kolloid rendszer stabil, a részecskék taszítják egymást, összetapadásuk valószínűsége lecsökken.

4. Reométer: Anton Paar / MCR 501

A készülék alkalmas newtoni (ideális) folyadékok, emulziók, szuszpenziók,  viszkoelasztikus  anyagok, olvadékok reológiai tulajdonságainak vizsgálatára rotációs, valamint oszcillációs üzemmódban. Rotációs üzemmódban mérés végezhető a nyírási sebesség, ill. a forgatónyomaték változtatása mellett (CSR, CSS módok) általában ideális vagy ideálishoz közeli folyadékok esetén. Az oszcillációs üzemmód célszerűen viszkoelasztikus anyagok reológiai tulajdonságának mérésére használható. Amplitúdó, ill. frekvencia söprés végezhető, melyek során mérhető a forgatónyomaték, fázis eltolódás, ill. a komplex nyírási modulus, melyek segítségével megadható a tárolási- és veszteségi modulus, mely jellemzi az anyagok elasztikus, ill. viszkózus jellegét. A méréseket egyszerűvé teszi az automatikus eszköz- és konfiguráció felismerő rendszer („Tool Master”) valamint a Peltier-elemmel biztosított pontos és gyors temperálási lehetőség. A primer merési eredményeket a Physica RheoPlus szoftver kezeli és analizálja. Folyadékok és max. 1100°C-os hőmérsékletig olvadékok mérésére alkalmas.  Paraméterek:

  • Nyomaték: 0,1 μNm
  • Nyomaték: 230 mNm
  • Nyomaték felbontás: 0,001 μNm
  • Belső szögfelbontás: 0,012 μrad
  • sebesség (CSS): 10-7 1/min
  • sebesség (CSR): 10-6 1/min
  • sebesség: 3000 1/min
  • Frekvenciatartomány: 10-5 – 100 Hz
  • Hőmérséklet: –150 – +1000 °C
  • Normál erő: 0,01 – 50 N

5. Scanning elektronmikroszkópok (SEM): Hitachi TM-1000

5.1. JEOL JSM-IT700HR/LA

Az energiadiszperzív röntgen spektrométerrel (EDS) felszerelt pásztázó elektronmikroszkóppal lehetőség van a legkülönbözőbb minták vizsgálatára, azok elemösszetételének meghatározására. A termikus téremissziós (Schottky) elektronforrás segítségével nagyfelbontású felvételek is készíthetők, így a készülék a nano mérettartományú minták vizsgálatára is alkalmas. Az alacsony vákuum üzemmód lehetővé teszi az elektromosan nem vezető minták közvetlen vizsgálatát is.

A berendezés legfőbb tulajdonságai:

  • Termikus téremissziós (FE: Field Emission) elektronforrás
  • Gyorsítófeszültség: 0.5 – 30 kV között tetszőlegesen változtatható
  • Felbontás: 1,0 nm (nagyvákuum, SE detektor)
  • Nagyítás 5× – 300 000×
  • Elektromosan nem vezető minták vizsgálati lehetősége alacsony vákuum módban (10 – 150 Pa)
  • Nagy minták vizsgálati lehetősége; maximális mintaméret: 200 mm (Ø) x 75 mm (magasság)
  • Detektorok:
    • Szekunderelektron (SE) detektor
    • Alacsony vákuum módhoz optimalizált szekunderelektron (SE) detektor
    • Visszaszórtelektron (BSE) detektor
    • Energiadiszperzív röntgen spektrométer (EDS) elemösszetétel analízishez (30 mm2 aktív felület; 128 eV energiafelbontás; elemek detektálása berilliumtól uránig)
  • Kép- és elemtérkép montázs készítési lehetőség a minta nagyobb felületéről

További információ: https://www.jeol.co.jp/en/products/detail/JSM-IT700HR.html

5.2. Hitachi TM-1000 asztali készülék

A berendezés legfőbb tulajdonságai:

  • Volfrám katód
  • Kompakt méret (513 × 478 × 564 mm)
  • Nagyítás 20× – 10.000×
  • Gyorsítófeszültség: 15 kV
  • Maximális mintaátmérő: 70 mm
  • Maximális mintamagasság: 20 mm
  • Visszaszórtelektron (BSE) detektor

6. Energiadiszperzív röntgenfluoreszcens spektrométer (Shimadzu EDX–720/800HS)

Szilárd, folyékony, valamint porminták kvalitatív és kvantitatív analízisére szolgál. Paraméterek:

  • Vizsgálható elemek: 11Na-92U
  • Kollimátor mérete: 1 – 10 mm
  • Mintatér mérete:
    • átmérő: 300 mm
    • magasság: 150 mm
  • Vákuumozható mintatér
  • CCD kamera

7. Mikrohullámú roncsoló – Milestone Ethos UP

Mikrohullámmal segített extrakció, az elemanalitikában használt feltárás elősegítése a mikrohullámok biztosította melegítés és a zárt térben  – a melegítés hatására bekövetkező – megnövekedett nyomás által.

  • 2 db 950 W telj. Magnetron (2450 MHz; 1900 W)
  • Egyenletes, homogén mikrohullámú tér speciális diffúzor által;
  • Mintatér: 70 liter
  • 15 férőhelyes, nagynyomású rotor (SK 15); jelenleg: 5 szegmens; 100 ml térf. PTFE-TFM edényekkel
  • Érintkezés nélküli (Contactless) hőmérséklet érzékelés és vezérlés (IR szenzor)
  • Vezérlő terminál (színes érintőképernyő); többnyelvű, ikonrendszerű szoftver
  • Beépített applikációs könyvtár, mintatípusok szerint, ajánlott paraméterekkel a feltáráshoz

8. Szikra-OES – BRUKER Q4 Tasman

Optikai emissziós spektrométer különböző (ötvözetlen, gyengén és erősen ötvözött) acélminták kvalitatív és kvantitatív vizsgálatához:

  • Minták előkészítése csiszolással és polírozással
  • Nagy felbontású CCD detektor
  • Multi-detektoros optika
  • Nagy spektrális érzékenység
  • ClearSpectrum Technológia

9. UV-VIS spektrofotométer – Perkin Elmer – Lambda 45

Szilárd és folyékony minták kvalitatív és kvantitatív analízise (azonosítás, koncentráció meghatározás)

  • Két fényutas (ref., sample)
  • Fényforrások: Deutérium lámpa (UV), halogén lámpa (VIS)
  • Fotodióda detektor
  • Monokromátor: Holografikus konkáv rács, 1053 vonal/mm

10. Vákuumkemencék

Fémhabok, kompozitok és bevonatok készítése, hőkezelések

  • Vákuumkemencék kis, labor illetve félipari méretben
  • Lehetőség nagy hőmérsékletű kísérletek elvégzésére (1800–2200 °C)
  • Programozható felfűtési sebesség és hőntartási idő
  • Kísérletek levegő és Ar atmoszférán illetve vákuumban

Elérhetőség

FILEP Ádám – csoportvezető, Fejlesztési Osztály – Anyagfejlesztési Kutatócsoport
Cím: H-3519 Miskolc, Iglói út 2.
Mobil: +36-70/658-9224
E-mail: adam.filep@bayzoltan.hu